Projet de travail approuvé
ISO/AWI 26665
Microbeam analysis--Preparation of sectional specimens for metallic materials using focused ion beam
Numéro de référence
ISO/AWI 26665
Edition 1
© ISO 2026
Projet de travail approuvé
Projet
Un groupe de travail a préparé un projet.

Résumé

This document specifies the equipment, sample pretreatment, preparation conditions, and procedures of preparing sectional specimens by using focused ion beam (FIB) technique. This document applies to the preparation of sectional specimens of metal materials, including substrates, surface coatings, and corrosion layers. Other materials may refer to this document for guidance.

Informations générales

  • État actuel
     : Projet
    Stade
    : Nouveau projet enregistré au programme de travail du TC/SC [20.00]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 202
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue à l'Objectif de développement durable suivant

9
Industrie, innovation et infrastructure

Vous avez une question?

Consulter notre Aide et assistance

  2. Store
  3. Store
  4. ICS
  5. ISO/AWI 26665