Tema de trabajo aprobado
ISO/AWI 26665
Microbeam analysis--Preparation of sectional specimens for metallic materials using focused ion beam
Reference number
ISO/AWI 26665
Edition 1
© ISO 2026
Tema de trabajo aprobado
En desarrollo
Un grupo de trabajo ha preparado un borrador.

Resumen

This document specifies the equipment, sample pretreatment, preparation conditions, and procedures of preparing sectional specimens by using focused ion beam (FIB) technique. This document applies to the preparation of sectional specimens of metal materials, including substrates, surface coatings, and corrosion layers. Other materials may refer to this document for guidance.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo
    Etapa
    : Nuevo proyecto registrado en el programa de trabajo TC/SC [20.00]
  • Edición
     : 1
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible

9
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