Projet de travail approuvé
ISO/AWI 20171
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Tagged image file format for scanning electronmicroscopy (TIFF/SEM)
Numéro de référence
ISO/AWI 20171
ISO/AWI 20171
Edition 1
© ISO 2026
Projet de travail approuvé
Résumé
This document specifies a platform-independent data file format for digital images generated by a scanning electron microscope (SEM) by adapting the TIFF based format.
Informations générales
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État actuel: ProjetStade: Nouveau projet enregistré au programme de travail du TC/SC [20.00]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 202/SC 4
- RSS mises à jour
