Утвержденный рабочий проект
ISO/AWI 20171
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Tagged image file format for scanning electronmicroscopy (TIFF/SEM)
Ссылочный номер
ISO/AWI 20171
Версия 1
© ISO 2026
Утвержденный рабочий проект
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document specifies a platform-independent data file format for digital images generated by a scanning electron microscope (SEM) by adapting the TIFF based format.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 4
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Интернет-магазин
  4. МКС
  5. ISO/AWI 20171