Projet
Spécification techniqueISO/DTS 23879
Nanotechnologies — Caractérisation structurale des feuillets d'oxyde de graphène — Mesure de l'épaisseur et de la taille latérale par microscopie à force atomique et microscopie électronique à balayage
Numéro de référence
ISO/DTS 23879
ISO/DTS 23879
Edition 1
© ISO 2026
Projet Spécification technique
Résumé
This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.
Informations générales
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État actuel: ProjetStade: Texte final reçu ou FDIS enregistré pour approbation formelle [50.00]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 229ICS :07.120
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