Проект
Технические спецификации
ISO/DTS 23879
Nanotechnologies — Structural characterization of graphene oxide flakes — Thickness and lateral size measurement using atomic force microscopy and scanning electron microscopy
Ссылочный номер
ISO/DTS 23879
Версия 1
© ISO 2026
Проект Технические спецификации
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта находится на этапе утверждения.

Тезис

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Регистрация окончательного проекта международного стандарта (FDIS) для официального принятия [50.00]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 229
    ICS :
    07.120 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Интернет-магазин
  4. МКС
  5. 07
  6. 07.120
  7. ISO/DTS 23879