Draft
Technical Specification
ISO/DTS 23879
Nanotechnologies — Structural characterization of graphene oxide flakes — Thickness and lateral size measurement using atomic force microscopy and scanning electron microscopy
Reference number
ISO/DTS 23879
Edition 1
© ISO 2026
Draft Technical Specification
En desarrollo
Este borrador está en fase de aprobación.

Resumen

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo
    Etapa
    : Texto final recibido o FDIS registrado para su aprobación formal [50.00]
  • Edición
     : 1
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 229
    ICS :
    07.120 
  • RSS actualizaciones

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9
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