Le dernier examen de cette norme date de 2020.
Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé
PreviewISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2015-07
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Edition: 1
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- ICS :
- 31.020 Composants électroniques en général
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