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L'ISO 14237:2010 spécifie une méthode de spectrométrie de masse des ions secondaires pour la détermination de la concentration atomique de bore dans le silicium monocristallin au moyen de matériaux dopés uniformément, étalonnés par un matériau de référence certifié à bore implanté. Cette méthode est applicable au bore dopé uniformément dans la gamme de concentrations de 1 x 1016 atomes/cm3 à 1 x 1020 atomes/cm3.
Informations générales
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État actuel : PubliéeDate de publication : 2010-07
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Edition : 2Nombre de pages : 19
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- ICS :
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Méthodes d'analyse chimique
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| Papier |
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AnnuléeISO 14237:2000
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Actuellement
PubliéeISO 14237:2010
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