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Domaine des travaux

Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.

Liens utiles

1
Norme ISO publiée *

sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 10

2
Projets de normes ISO *

sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 10

12
Membres participants
2
Membres observateurs

* ce nombre inclut les mises à jour

Référence Titre Type
ISO/TC 201/SC 10/WG 1   Technique par fluorescence X (XRF) Groupe de travail

 

Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10

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Référence Titre ISO/CEI
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