Informations

  • Secrétariat: JISC
    Manager du comité:
    Dr Toshiyuki Fujimoto
  • Président(e) (jusqu'à fin 2021):
    Prof.ssa Laura Depero
  • Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:
    Ms Yan Cui
    Responsable de programmes éditoriaux ISO [EPM]:
    Ms Jasmin Lewis
  • Date de création: 2016

Domaine des travaux

Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.

Liens utiles

1

Norme ISO publiée *

sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 10

12

Membres participants

1

Membre observateur

* ce nombre inclut les mises à jour

Référence Titre Type
ISO/TC 201/SC 10/SG 1 Technique de réflectométrie des rayons X Groupe de travail
ISO/TC 201/SC 10/WG 1 Technique par fluorescence X (XRF) Groupe de travail

 

Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10

ISO/TC 201/SC 10 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :

Référence Titre ISO/CEI
ISO/TC 147 Qualité de l'eau ISO
ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

ISO/TC 201/SC 10 - Secrétariat

JISC [Japon]

Japanese Industrial Standards Committee
Technical Regulations, Standards & Conformity Assessment Policy Unit
Ministry of Economy, Trade and Industry
1-3-1, Kasumigaseki, Chiyoda-ku
Tokyo 100 - 8901
Japon

Tel: +81 3 35 01 94 71
Fax: +81 3 35 80 86 37