Standardization of methods for instrument specification, instrument calibration, instrument operation, data acquisition, data processing, and data analysis in the use of X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis for surface chemical and structural analysis.
ISO/TC 201/SC 10 можно получить доступ к документам комитетов ниже
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| ISO/TC 147 | Water quality | ISO |
| ISO/TC 202 | Microbeam analysis | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
| Дата | Меяц | Местоположение | ТК/ПК | Примечание |
|---|---|---|---|---|
| 15 | October 2019 | つくば市 (Japan) | ISO/TC 201/SC 10 | |
| 31-2 | October-November 2019 | Tsukuba (Japan) | ISO/TC 201 |
* Информация определена, но заседание еще официально не проведено
** Предварительное