Информация

  • Секретариат: JISC
    Менеджер комитета:
    Dr Satoshi Gonda
  • Председатель (до конца 2020):
    Dr Hidehiko Nonaka
  • Менеджер ИСО по техническим программам [TPM]:
    Ms Monja Korter
    Менеджер ИСО по редакционным программам [EPM]:
    Ms Jasmin Lewis
  • Дата создания : 1991

Область деятельности

Standardization in the field of surface chemical analysis. Surface chemical analysis includes analytical techniques in which beams of electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are incident on the specimen material and scattered or emitted electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are detected. It also includes techniques in which probes are scanned over the surface and surface-related signals are detected.

Excluded:

  • Scanning electron microscopy which is within the scope of ISO/TC 202.

Note:

With current techniques of surface chemical analysis, analytical information is obtained for regions close to a surface (generally within 20 nm) and analytical information-versus-depth data are obtained with surface analytical techniques over greater depths.

Быстрый поиск

Цели в области устойчивого развития

Данный комитет занимается разработкой 1 стандарт для достижения следующих Цели в области устойчивого развития:

3
Good Health and Well-being
6
Clean Water and Sanitation
9
Industry, Innovation and Infrastructure
71

Опубликованных стандартов *

относящиеся к ТК и ПК

из которых 7 находящиеся в компетенции ISO/TC 201

17

Стандартов ИСО, находящихся *

относящиеся к ТК и ПК

из которых 2 находящиеся в компетенции ISO/TC 201

13

Полноправных членов

15

Наблюдатели

* число включает обновленную информацию

Ссылки Заголовок Тип
ISO/TC 201/SC 1 Terminology Sub committee
ISO/TC 201/SC 2 General procedures Sub committee
ISO/TC 201/SC 3 Data management and treatment Sub committee
ISO/TC 201/SC 4 Depth profiling Sub committee
ISO/TC 201/SC 6 Secondary ion mass spectrometry Sub committee
ISO/TC 201/SC 7 Electron spectroscopies Sub committee
ISO/TC 201/SC 8 Glow discharge spectroscopy Sub committee
ISO/TC 201/SC 9 Scanning probe microscopy Sub committee
ISO/TC 201/SC 10 X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis Sub committee
ISO/TC 201/SG 1 Nano-materials characterization Working group
ISO/TC 201/WG 4 Surface characterization of biological materials Working group
ISO/TC 201/WG 5 Optical interface analysis Working group

Комитет по рабочим связям с ISO/TC 201

Комитет, указанный ниже, имеет доступ к следующим документам ISO/TC 201:

Ссылка Заголовок ИСО/МЭК
IEC/TC 113 Nanotechnology for electrotechnical products and systems IEC
ISO/TC 107 Metallic and other inorganic coatings ISO
ISO/TC 202 Microbeam analysis ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Комитеты по рабочим связям ISO/TC 201

ISO/TC 201 можно получить доступ к документам комитетов ниже

Ссылка Заголовок ИСО/МЭК
IEC/TC 113 Nanotechnology for electrotechnical products and systems IEC
ISO/TC 150 Implants for surgery ISO
ISO/TC 202 Microbeam analysis ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Рабочие связи (Категории А и B)

Акроним Заголовок Тип рабочей связи
IUPAC International Union of Pure and Applied Chemistry A
IUVSTA International Union for Vacuum Science, Technique and Applications A
VAMAS Versailles Project on Advanced Materials and Standards A

Дата Меяц Местоположение ТК/ПК Примечание
  2020   ISO/TC 201/SC 1 **

* Информация определена, но заседание еще официально не проведено
** Предварительное

ISO/TC 201 - Секретариат

JISC [Japan]

National Institute of Advanced Industrial Science and Technology（AIST)
AIST Tsukuba Central 2
1-1-1 Umezono, Tsukuba
Ibaraki 305-8568
Japan

Секретариат:

Dr Satoshi Gonda