Информация
-
Секретариат: SAC
Менеджер комитета: -
Председатель (до конца 2024):Mr Jiang Zhao
-
Менеджер ИСО по техническим программам [TPM]:Менеджер ИСО по редакционным [EM]:
- Дата создания : 1991
Область деятельности
Standardization in the field of microbeam analysis (measurement, parameters, methods and reference materials) which uses electrons as an incident beam and electrons and photons as the detection signal.
Note:
The purpose is to analyze the compositional and structural characteristics of solid materials. The volume of analysis will generally involve a depth up to 10 micrometers and a surface area less than 100 square micrometers.
Быстрый поиск
-
Рабочая программа
Проекты и новые рабочие темы -
Бизнес-планы
Бизнес-планы ТК для публичного рассмотрения -
Рабочая область
Рабочие документы (требуется наличие учетной записи) -
Электронные приложения ИСО
ИТ-инструменты, разработанные для поддержания процесса разработки стандартов -
Публичный контент группы
Просмотр документов, предоставленных данной группой
Данный комитет занимается разработкой 4 стандарта для достижения следующих Цель устойчивого развития:
| Ссылки | Заголовок | Тип |
|---|---|---|
| ISO/TC 202/SC 1 | Terminology | Подкомитет |
| ISO/TC 202/SC 2 | Electron probe microanalysis | Подкомитет |
| ISO/TC 202/SC 3 | Analytical electron microscopy | Подкомитет |
| ISO/TC 202/SC 4 | Scanning electron microscopy | Подкомитет |
| ISO/TC 202/AG | Future Directions in Microbeam Analysis | Рабочая группа |
| ISO/TC 202/WG 1 | General procedures and data management | Рабочая группа |
| ISO/TC 202/WG 6 | Microbeam analysis - Guideline for electron backscatter diffraction analysis | Рабочая группа |
Комитет по рабочим связям с ISO/TC 202
Комитет, указанный ниже, имеет доступ к следующим документам ISO/TC 202:
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| ISO/TC 201 | Surface chemical analysis | ISO |
| ISO/TC 201/SC 10 | X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Комитеты по рабочим связям ISO/TC 202
ISO/TC 202 можно получить доступ к документам комитетов ниже
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| ISO/TC 201 | Surface chemical analysis | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 202 - Секретариат
Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76