Информация

  • Секретариат: SAC
    Менеджер комитета:
    Mr Ning Zhao
  • Председатель (до конца 2021):
    Mr Jiang Zhao
  • Менеджер ИСО по техническим программам [TPM]:
    M Stéphane Sauvage
    Менеджер ИСО по редакционным программам [EPM]:
    Ms Jasmin Lewis
  • Дата создания : 1991

Область деятельности

Standardization in the field of microbeam analysis (measurement, parameters, methods and reference materials) which uses electrons as an incident beam and electrons and photons as the detection signal.

Note:

The purpose is to analyze the compositional and structural characteristics of solid materials. The volume of analysis will generally involve a depth up to 10 micrometers and a surface area less than 100 square micrometers.

Быстрый поиск

Цели в области устойчивого развития

Данный комитет занимается разработкой 1 стандарт для достижения следующих Цель устойчивого развития:

22

Опубликованных стандартов *

относящиеся к ТК и ПК

из которых 6 находящиеся в компетенции ISO/TC 202

10

Стандартов ИСО, находящихся *

относящиеся к ТК и ПК

из которых 5 находящиеся в компетенции ISO/TC 202

9

Полноправных членов

14

Наблюдатели

* число включает обновленную информацию

Ссылки Заголовок Тип
ISO/TC 202/SC 1 Terminology Sub committee
ISO/TC 202/SC 2 Electron probe microanalysis Sub committee
ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy Sub committee
ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy (SEM) Sub committee
ISO/TC 202/WG 1 General procedures and data management Working group
ISO/TC 202/WG 4 Energy dispersive X-ray spectroscopy Working group
ISO/TC 202/WG 7 Microbeam analysis - Electron Backscatter Diffraction - Measurement of average grain size Working group
ISO/TC 202/WG 9 Guideline for mis‐orientation analysis to assess mechanical damage by EBSD Working group

Комитет по рабочим связям с ISO/TC 202

Комитет, указанный ниже, имеет доступ к следующим документам ISO/TC 202:

Ссылка Заголовок ИСО/МЭК
ISO/TC 201 Surface chemical analysis ISO
ISO/TC 201/SC 10 X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Комитеты по рабочим связям ISO/TC 202

ISO/TC 202 можно получить доступ к документам комитетов ниже

Ссылка Заголовок ИСО/МЭК
ISO/TC 201 Surface chemical analysis ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Рабочие связи (Категории А и B)

Акроним Заголовок Тип рабочей связи
EMAS European Microbeam Analysis Society A

Дата Меяц Местоположение ТК/ПК Примечание
23-25 October 2019 Hangzhou (China) ISO/TC 202  

* Информация определена, но заседание еще официально не проведено
** Предварительное

ISO/TC 202 - Секретариат

SAC [China]

Institute of Chemistry
Bei Yi Jie 2#, ZhongGuanCun
Beijing 100190
China

Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76

Секретариат:

Mr Ning Zhao