Информация
-
Секретариат: SAC
Менеджер комитета: -
Председатель (до конца 2021):Mr Jiang Zhao
-
Менеджер ИСО по техническим программам [TPM]:Менеджер ИСО по редакционным программам [EPM]:
- Дата создания : 1991
Область деятельности
Standardization in the field of microbeam analysis (measurement, parameters, methods and reference materials) which uses electrons as an incident beam and electrons and photons as the detection signal.
Note:
The purpose is to analyze the compositional and structural characteristics of solid materials. The volume of analysis will generally involve a depth up to 10 micrometers and a surface area less than 100 square micrometers.
Быстрый поиск
-
Рабочая программа
Проекты и новые рабочие темы -
Бизнес-планы
Бизнес-планы ТК для публичного рассмотрения -
Рабочая область
по ИСО/ТК и общественным информационным материалам -
Электронные приложения ИСО
ИТ-инструменты, разработанные для поддержания процесса разработки стандартов
Данный комитет занимается разработкой 2 стандарта для достижения следующих Цель устойчивого развития:
| Ссылки | Заголовок | Тип |
|---|---|---|
| ISO/TC 202/SC 1 | Terminology | Sub committee |
| ISO/TC 202/SC 2 | Electron probe microanalysis | Sub committee |
| ISO/TC 202/SC 3 | Analytical electron microscopy | Sub committee |
| ISO/TC 202/SC 4 | Scanning electron microscopy | Sub committee |
| ISO/TC 202/AG | Future Directions in Microbeam Analysis | Working group |
| ISO/TC 202/WG 1 | General procedures and data management | Working group |
| ISO/TC 202/WG 4 | Energy dispersive X-ray spectroscopy | Working group |
| ISO/TC 202/WG 6 | Microbeam analysis - Guideline for electron backscatter diffraction analysis | Working group |
| ISO/TC 202/WG 9 | Guideline for mis‐orientation analysis to assess mechanical damage by EBSD | Working group |
| ISO/TC 202/WG 10 | Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction of steel products | Working group |
Комитет по рабочим связям с ISO/TC 202
Комитет, указанный ниже, имеет доступ к следующим документам ISO/TC 202:
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| ISO/TC 201 | Surface chemical analysis | ISO |
| ISO/TC 201/SC 10 | X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Комитеты по рабочим связям ISO/TC 202
ISO/TC 202 можно получить доступ к документам комитетов ниже
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| ISO/TC 201 | Surface chemical analysis | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 202 - Секретариат
Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76