u
75422
ISO/AWI TR 23397
Mesure de l'épaisseur du film des nanomatériaux en utilisant l'ellipsométrie
Informations générales
-
État actuel : Projet
-
Edition : 1
-
- ICS :
Cycle de vie
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Révision / Rectificatifs techniques
-
Actuellement en cours d'élaboration
ISO/AWI TR 23397
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Service à la clientèle
+41 22 749 08 88
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Suivez l'actualité de l'ISO
Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.