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La présente Norme internationale décrit des modes opératoires pour l'analyse par cartographie élémentaire

utilisant une microsonde électronique avec spectrométrie à dispersion de longueur d'onde. Le choix entre la

cartographie par déplacement numérique du faisceau d'électrons dans l'échantillon (cartographie par balayage

du faisceau d'électrons) et la cartographie impliquant uniquement le mouvement de la platine (cartographie

sur zone large) est évalué. La présente Norme internationale décrit cinq types de traitement des données: la

méthode de l'intensité brute des rayons X, la méthode du k‑ratio, la méthode de la courbe d'étalonnage, la

méthode de corrélation et la méthode de correction des effets de matrice.


Informations générales

  • État actuel :  Publiée
    Date de publication : 2012-03
  • Edition : 1
    Nombre de pages : 10
  • :
    ISO/TC 202/SC 2
    Microanalyse par sonde à électrons
  • 71.040.50
    Méthodes d'analyse physico-chimique

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