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L'ISO 18117:2009 fournit des lignes directrices relatives à la manipulation et aux récipients de stockage des échantillons avant l'analyse chimique des surfaces. Elle est destinée à aider l'utilisateur des services d'analyse des surfaces à comprendre les exigences de manipulation spéciales des techniques d'analyse chimique des surfaces, en particulier les suivantes: la spectroscopie des électrons Auger (AES), la spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) et la spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS ou ESCA). Les protocoles présentés peuvent également être appliquée à d'autres techniques d'analyse (TXRF, par exemple) sensibles à la composition des surfaces. Dans certains cas, pour des échantillons spécifiques, des précautions supplémentaires peuvent être requises.


Informations générales

  • État actuel :  Publiée
    Date de publication : 2009-03
    Version corrigée (en) : 2009-06
    Version corrigée (fr) : 2009-06
  • Edition : 1
    Nombre de pages : 9
  • :
    ISO/TC 201/SC 2
    Procédures générales
  • 71.040.40
    Méthodes d'analyse chimique

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