Résumé
Establishes a reference system incorporating all calibrated motions of rotation and displacement on the microscope and its accessories so that the measuring procedures are uniform. Particular attention is given to the polarization parameters and measuring accessories.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 1996-12Stade: Norme internationale en cours d'examen systématique [90.20]
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Edition: 1Nombre de pages: 6
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Comité technique :ISO/TC 172/SC 5ICS :37.020
- RSS mises à jour
Cycle de vie
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Actuellement
PubliéeISO 8576:1996
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Stade: 90.20 (En cours d'examen)
