Résumé
Specifies measuring methods so that the film/process system can be obtained reproducibly and can also be compared with those of other systems. Describes sensitometric procedures for films exposed directly to X-rays. This second edition cancels and replaces the first edition (1981).
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 1991-08Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 2Nombre de pages: 10
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Comité technique :ISO/TC 42ICS :37.040.25
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AnnuléeISO 5799:1981
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