ISO/DIS 16413 Предпросмотр

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry -- Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

недоступно на русском языке

Общая информация

  • Текущий статус :  Under development
  • Версия : 2
  • :
    ISO/TC 201
    Surface chemical analysis
  • 35.240.70
    IT applications in science
    71.040.40
    Chemical analysis

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Ранее
    ISO 16413:2013
  • В настоящее время на стадии разработки
    ISO/DIS 16413

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

 Subscribe