ISO 16413:2013 Предпросмотр

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry -- Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

недоступно на русском языке

Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2013-02
  • Версия : 1
    Число страниц : 30
  • :
    ISO/TC 201
    Surface chemical analysis
  • 35.240.70
    IT applications in science
    71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF138

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO 16413:2013
  • Будет заменено
    ISO/DIS 16413

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

 Subscribe