ISO/DIS 16413 Preview

Évaluation de l'épaisseur, de la densité et de la largeur de l'interface des films fins par réflectrométrie de rayons X -- Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport

Indisponible en français

Informations générales

  • État actuel :  Projet
  • Edition : 2
  • :
    ISO/TC 201
    Analyse chimique des surfaces
  • 35.240.70
    Applications des TI dans les sciences
    71.040.40
    Méthodes d'analyse chimique

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