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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Lignes directrices pour l'analyse

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Rapport des résultats de l'analyse de films minces

Analyse chimique des surfaces - Caractérisation des matériaux nanostructurés

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Mesurage de l'épaisseur d'oxyde de silicium

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons Auger — Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale

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Analyse chimique des surfaces — Spectromètres de photoélectrons X — Étalonnage en énergie

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Modes opératoires d'évaluation de la performance au jour le jour d'un spectromètre de photoélectrons X

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Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à résolution moyenne — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire

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Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à haute résolution — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire et de l'état chimique

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons — Lignes directrices pour l'utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l'analyse quantitative de matériaux homogènes

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons — Lignes directrices pour l'utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l'analyse quantitative de matériaux homogènes

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Protocoles pour déterminer les fonds continus

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Déduction de l'information chimique

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons — Procédures pour l'identification, l'estimation et la correction de la dégradation involontaire par rayons X pendant une analyse de matériau par spectroscopie de photoélectrons par rayons X

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons — Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge

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Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Estimation et production de rapports sur les limites de détection des éléments contenus dans les matériaux homogènes

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons — Exigences minimales pour le rapport d'ajustement de pic en spectroscopie de photoélectrons X

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Méthodes utilisées pour la détermination de l'intensité des pics et informations requises pour l'expression des résultats

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Méthodes utilisées pour la détermination de l'intensité des pics et informations requises pour l'expression des résultats

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Analyse chimique des surfaces — Spectromètres de photoélectrons X et d'électrons Auger — Linéarité de l'échelle d'intensité

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopies d'électrons — Mesurage de l'épaisseur et de la composition des revêtements de nanoparticules

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Répétabilité et constance de l'échelle d'énergie

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Répétabilité et constance de l'échelle d'intensité

Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge