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Norme et/ou projet sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 7 Secrétariat Stade ICS
ISO 10810:2010
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Lignes directrices pour l'analyse
95.99
ISO 10810:2019
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Lignes directrices pour l'analyse
60.60
ISO 13424:2013
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Rapport des résultats de l'analyse de films minces
90.60
ISO/DTR 14187
Analyse chimique des surfaces - Caractérisation des matériaux nanostructurés
30.99
ISO/TR 14187:2011
Analyse chimique des surfaces - Caractérisation des matériaux nanostructurés
90.92
ISO 14701:2011
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Mesurage de l'épaisseur d'oxyde de silicium
95.99
ISO 14701:2018
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Mesurage de l'épaisseur d'oxyde de silicium
60.60
ISO 15470:2004
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale
95.99
ISO 15470:2017
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale
60.60
ISO 15471:2004
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons Auger — Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale
95.99
ISO 15471:2016
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons Auger — Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale
60.60
ISO 15472:2001
Analyse chimique des surfaces — Spectromètres de photoélectrons X — Étalonnage en énergie
95.99
ISO 15472:2010
Analyse chimique des surfaces — Spectromètres de photoélectrons X — Étalonnage en énergie
90.93
ISO 16129:2012
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Modes opératoires d'évaluation de la performance au jour le jour d'un spectromètre de photoélectrons X
95.99
ISO 16129:2018
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Modes opératoires d'évaluation de la performance au jour le jour d'un spectromètre de photoélectrons X
60.60
ISO 17973:2002
Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à résolution moyenne — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire
95.99
ISO 17973:2016
Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à résolution moyenne — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire
60.60
ISO 17974:2002
Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à haute résolution — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire et de l'état chimique
90.93
ISO 18118:2004
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons — Lignes directrices pour l'utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l'analyse quantitative de matériaux homogènes
95.99
ISO 18118:2015
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons — Lignes directrices pour l'utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l'analyse quantitative de matériaux homogènes
60.60
ISO/DTR 18392
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Protocoles pour déterminer les fonds continus
30.60
ISO/TR 18392:2005
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Protocoles pour déterminer les fonds continus
90.92
ISO/TR 18394:2006
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Déduction de l'information chimique
95.99
ISO/TR 18394:2016
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Déduction de l'information chimique
60.60
ISO 18554:2016
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons — Procédures pour l'identification, l'estimation et la correction de la dégradation involontaire par rayons X pendant une analyse de matériau par spectroscopie de photoélectrons par rayons X
60.60
ISO 19318:2004
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons — Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge
90.60
ISO 19668:2017
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Estimation et production de rapports sur les limites de détection des éléments contenus dans les matériaux homogènes
60.60
ISO 19830:2015
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie d'électrons — Exigences minimales pour le rapport d'ajustement de pic en spectroscopie de photoélectrons X
60.60
ISO 20903:2006
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Méthodes utilisées pour la détermination de l'intensité des pics et informations requises pour l'expression des résultats
95.99
ISO 20903:2011
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Méthodes utilisées pour la détermination de l'intensité des pics et informations requises pour l'expression des résultats
95.99
ISO 20903:2019
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Méthodes utilisées pour la détermination de l'intensité des pics et informations requises pour l'expression des résultats
60.60
ISO 21270:2004
Analyse chimique des surfaces — Spectromètres de photoélectrons X et d'électrons Auger — Linéarité de l'échelle d'intensité
90.93
ISO/AWI TR 23173
Titre manque
10.99
ISO 24236:2005
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Répétabilité et constance de l'échelle d'énergie
90.93
ISO 24237:2005
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Répétabilité et constance de l'échelle d'intensité
90.93
ISO 29081:2010
Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger — Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge
90.93

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