| Norme et/ou projet sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 9 Secrétariat | Stade | ICS |
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Analyse chimique des surfaces -- Microscopie par sonde à balayage -- Mesurage du taux de dérive
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90.60 | |
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Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Détermination de constantes normales en porte-à-faux de ressort
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60.60 | |
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Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
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90.92 | |
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ISO/FDIS 11952 [Projet]
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
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50.20 | |
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Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde à balayage - Normes sur la définition et l'étalonnage de la résolution spatiale des microscopes électriques à sonde à balayage (ESPMs) comme SSRM et SCM pour l'imagerie 2D-dopant et d'autres fins
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60.60 | |
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Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à balayage de sonde -- Procédure pour la caractérisation in situ des sondes AFM utilisées pour mesurer la nanostructure
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60.60 | |
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ISO/CD TR 13096 [Projet]
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Lignes directrices pour décrire les propriétés de la sonde AFM
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30.00 | |
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ISO/DIS 21222 [Projet]
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde locale -- Lignes directrices pour la détermination des modules d’élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique
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40.20 | |
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ISO/NP 23683 [Projet]
Titre manque
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10.99 |
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Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Définition et étalonnage de la résolution latérale d'un microscope optique en champ proche
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90.93 |
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