Новый проект
ISO/AWI TS 22933
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
Ссылочный номер
ISO/AWI TS 22933
Версия 2
Новый проект
ISO/AWI TS 22933
93350
Начата разработка.
Текущее издание: ISO/TS 22933:2022

Тезис

This document specifies a method for measuring the mass resolution in SIMS, and how to compare the mass resolution between different instruments (e.g. TOF-SIMS, Magnetic SIMS, Quadrupole SIMS, Fourier Transform SIMS, etc.) by considering the peak shapes.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : Новая рабочая тема утверждена [10.99]
  •  : 2
  • ISO/TC 201/SC 6
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ