Рабочий проект
ISO/WD 25797
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) --Test method for determining amount-of-substance of deposited materials and physical film thickness by using X-ray fluorescence spectrometry
Ссылочный номер
ISO/WD 25797
Версия 1
Рабочий проект
ISO/WD 25797
91505
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This international standard specifies a method of X-ray fluorescence (XRF) spectrometry for measuring amount-of-substance of deposited materials which can derive film thickness or relative film density of fine ceramic coatings or metal films on a substrate.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : Рассылка комментариев [20.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 206
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ