Proyecto de trabajo
ISO/WD 25797
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) --Test method for determining amount-of-substance of deposited materials and physical film thickness by using X-ray fluorescence spectrometry
Reference number
ISO/WD 25797
Edition 1
Proyecto de trabajo
ISO/WD 25797
91505
Un grupo de trabajo ha preparado un borrador.

Resumen

This international standard specifies a method of X-ray fluorescence (XRF) spectrometry for measuring amount-of-substance of deposited materials which can derive film thickness or relative film density of fine ceramic coatings or metal films on a substrate.

Informaciones generales

  •  : En desarrollo
    : Cierre del periodo de observaciones [20.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 206
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