недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

This document defines the most important quantities that characterize an energy-dispersive X‑ray spectrometer consisting of a semiconductor detector, a pre-amplifier and a signal-processing unit as the essential parts. This document is only applicable to spectrometers with semiconductor detectors operating on the principle of solid-state ionization. This document specifies minimum requirements and how relevant instrumental performance parameters are to be checked for such spectrometers attached to a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA). The procedure used for the actual analysis is outlined in ISO 22309[2] and ASTM E1508[3] and is outside the scope of this document.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2021-02
  • Версия : 3
  • :
    ISO/TC 202
    Microbeam analysis
  • 71.040.99
    Other standards related to analytical chemistry

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF88

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.