недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

This document describes methods to qualify the scanning electron microscope with the digital imaging system for quantitative and qualitative SEM measurements by evaluating essential scanning electron microscope performance parameters to maintain the performance after installation of the instruments. The items and evaluating methods of the performance parameters are selected by users for their own purposes.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2021-03
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202/SC 4
    Scanning electron microscopy
  • 37.020
    Optical equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF178

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.