Последний раз этот стандарт был пересмотрен в 2016. Поэтому данная версия остается актуальной
Тезис Предпросмотр
ISO 14237:2010 specifies a secondary-ion mass spectrometric method for the determination of boron atomic concentration in single-crystalline silicon using uniformly doped materials calibrated by a certified reference material implanted with boron. This method is applicable to uniformly doped boron in the concentration range from 1 x 1016 atoms/cm3 to 1 x 1020 atoms/cm3.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2010-07
-
Версия : 2
-
- ICS :
-
Chemical analysis
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| Бумажный |
- CHF118
Жизненный цикл
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Изменения / Исправления
-
Ранее
ISO 14237:2000
-
Сейчас на стадии пересмотра
ISO 14237:2010
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.