ISO 16243:2011 Предпросмотр

Surface chemical analysis -- Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

недоступно на русском языке

ISO 16243:2011 specifies the minimum level of information to be reported by the analyst following the analysis of a test specimen using X‑ray photoelectron spectroscopy (XPS). It includes information that is to be recorded on or in the analytical record.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2011-12
  • Версия : 1
    Число страниц : 9
  • :
    ISO/TC 201/SC 2
    General procedures
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF58

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Не подтверждено
    ISO 16243:2011

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

 Subscribe