Комитет, указанный ниже, имеет доступ к следующим документам ISO/TC 172/SC 3:
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| IEC/TC 49 | Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection | IEC |
| ISO/TC 172/SC 1 | Fundamental standards | ISO |
ISO/TC 172/SC 3 можно получить доступ к документам комитетов ниже
| Ссылка | Заголовок | ИСО/МЭК |
|---|---|---|
| IEC/TC 49 | Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection | IEC |
| ISO/TC 172/SC 1 | Fundamental standards | ISO |
| Акроним | Заголовок | Тип рабочей связи |
|---|---|---|
| OIML | International Organization of Legal Metrology | A |
| Дата | Меяц | Местоположение | ТК/ПК | Примечание |
|---|---|---|---|---|
| 11-15 | November 2019 | Hangzhou (China) | ISO/TC 172 |
* Информация определена, но заседание еще официально не проведено
** Предварительное