ISO/AWI TS 23367-3

Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document specifies the analytical performance requirements and test methods for silicon-based nanowire/nano plate field effect transistor (FET) sensors used in molecule detecting devices. It defines key performance parameters, including sensitivity, selectivity, exclusivity, and limit of detection. This standard provides guidance for manufacturers in evaluating the performance characteristics of these sensors.

Общая информация

Текущий статус
: В стадии разработки

Этап
: Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
Версия
: 1
Технический комитет :
ISO/TC 229
RSS обновления