ISO/DIS 4508

недоступно на русском языке

Проект данного международного стандарта находится на этапе рассмотрения членами ИСО.

ISO/DIS 4508

CHF 67

Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This International Standard specifies the guidelines of the method and procedure for determining the effect of temperature on atomic force microscope (AFM) nano-scale dimension measurements. The effect of temperature can be evaluated by continuously measuring the changes of the X- and Y- pitches and height of a two-dimensional (2D) calibration grating in an environmental temperature controllable AFM. If necessary, this method and procedure can be used to evaluate the effect of temperature on dimension measurement of other scanning probe microscopes(SPMs).

Общая информация

Текущий статус
: В стадии разработки

Этап
: Рассылка полного отчета: проект международного стандарта принят для регистрации в качестве окончательного проекта международного стандарта [40.99]
Версия
: 1
Технический комитет :
ISO/TC 201/SC 9

ICS :
71.040.40
RSS обновления