недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

This document specifies a destructive method for the measurement of the local thickness of metallic and other inorganic coatings by examination of cross-sections with a scanning electron microscope (SEM). The method is applicable for thicknesses up to several millimetres, but for such thick coatings it is usually more practical to use a light microscope (see ISO 1463). The lower thickness limit depends on the achieved measurement uncertainty (see Clause 10).

NOTE       The method can also be used for organic layers when they are neither damaged by the preparation of the cross-section nor by the electron beam during imaging.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2022-02
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет
     : ISO/TC 107 Metallic and other inorganic coatings
  • ICS
     :
    25.220.40 Metallic coatings

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF61

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 25
  6. 25.220
  7. 25.220.40
  8. ISO 9220:2022