ISO/NP 23683

Surface chemical analysis -- scanning probe microscopy -- Guideline for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy

Общая информация

  • Текущий статус :  Under development
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 201/SC 9
    Scanning probe microscopy

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время на стадии разработки
    ISO/NP 23683

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

 Subscribe