недоступно на русском языке

Приобрести

Тезис Предпросмотр

This document is intended to aid the operators of X-ray photoelectron spectrometers in their analysis of typical samples. It takes the operator through the analysis from the handling of the sample and the calibration and setting-up of the spectrometer to the acquisition of wide and narrow scans and also gives advice on quantification and on preparation of the final report.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2019-08
  • Версия : 2
    Число страниц : 32
  • Технический комитет
    :
    ISO/TC 201/SC 7
    Electron spectroscopies
  • ICS :
    71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF138

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах