недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2018-05
  • Версия : 1
    Число страниц : 29
  • :
    ISO/TC 172/SC 9
    Laser and electro-optical systems
  • 31.260
    Optoelectronics. Laser equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF138

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах