недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO/TS 11888:2017 describes methods for the characterization of mesoscopic shape factors of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs). Techniques employed include scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM), viscometry, and light scattering analysis.

ISO/TS 11888:2017 also includes additional terms needed to define the characterization of static bending persistence length (SBPL). Measurement methods are given for the evaluation of SBPL, which generally varies from several tens of nanometres to several hundred micrometres.

Well-established concepts and mathematical expressions, analogous to polymer physics, are utilized for the definition of mesoscopic shape factors of MWCNTs.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2017-07
  • Версия : 2
  • :
    ISO/TC 229
    Nanotechnologies
  • 07.120
    Nanotechnologies

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF88

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Ранее
    ISO/TS 11888:2011
  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO/TS 11888:2017

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.