недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 19830:2015 Standard is to define how peak fitting and the results of peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy shall be reported. It is applicable to the fitting of a single spectrum or to a set of related spectra, as might be acquired, for example, during a depth profile measurement. This International Standard provides a list of those parameters which shall be reported if either reproducible peak fitting is to be achieved or a number of spectra are to be fitted and the fitted spectra compared. This International Standard does not provide instructions for peak fitting nor the procedures which should be adopted.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2015-11
  • Версия : 1
    Число страниц : 22
  • :
    ISO/TC 201/SC 7
    Electron spectroscopies
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF118

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас
    ISO 19830:2015

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах