ISO 19668:2017 Предпросмотр

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials

недоступно на русском языке

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Общая информация ^

Текущий статус : Published

Дата публикации : 2017-08
Версия : 1

Число страниц : 24
Технический комитет
:
ISO/TC 201/SC 7

Electron spectroscopies
ICS :

71.040.40

Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

	Формат	Язык
std 1 118	PDF
std 2 118	Бумажный

CHF118

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет

Изменения / Исправления

Сейчас
ISO 19668:2017

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами

+41 22 749 08 88

customerservice@iso.org

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах