недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 18554:2016 provides a simple procedure for identifying, estimating and correcting for unintended degradation in the elemental composition or chemical state of a material which occurs as a result of X-radiation during the time that a specimen material is exposed to the X-rays used in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).

ISO 18554:2016 does not address comparisons between different types of material nor does it address the mechanisms, depth, or chemical nature of the degradation that occurs. The correction procedure proposed is only valid if the changes are caused by the X-rays and result in less than a 30 % reduction or increase in intensity of a chosen photoelectron peak from the sample material.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2016-03
  • Версия : 1
    Число страниц : 17
  • :
    ISO/TC 201/SC 7
    Electron spectroscopies
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF88

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас
    ISO 18554:2016

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах