Тезис Предпросмотр
ISO 25178-72:2017 defines the XML file format x3p for storage and exchange of topography and profile data.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2017-05
-
Версия : 1Число страниц : 23
-
Технический комитет:Dimensional and geometrical product specifications and verification
-
- ICS :
-
Properties of surfaces
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| Бумажный |
- CHF118
Жизненны цикл
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Изменения / Исправления
-
Сейчас
ISO 25178-72:2017 -
Исправления/Изменения
ISO 25178-72:2017/DAmd 1
-
Пересмотрен
ISO/CD 25178-72
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах