ISO 17109:2015 Предпросмотр

Surface chemical analysis -- Depth profiling -- Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films

недоступно на русском языке

ISO 17109:2015 specifies a method for the calibration of the sputtered depth of a material from a measurement of its sputtering rate under set sputtering conditions using a single- or multi-layer reference sample with layers of the same material as that requiring depth calibration. The method has a typical accuracy in the range 5 % to 10 % for layers 20 nm to 200 nm thick when sputter depth profiled using AES, XPS, and SIMS. The sputtering rate is determined from the layer thickness and the sputtering time between relevant interfaces in the reference sample and this is used with the sputtering time to give the thickness of the sample to be measured. The determined ion sputtering rate can be used for the prediction of ion sputtering rates for a wide range of other materials so that depth scales and sputtering times in those materials can be estimated through tabulated values of sputtering yields and atomic densities.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2015-08
  • Версия : 1
    Число страниц : 16
  • :
    ISO/TC 201/SC 4
    Depth profiling
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF88

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас
    ISO 17109:2015

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe