ISO 13095:2014 Предпросмотр

Surface Chemical Analysis -- Atomic force microscopy -- Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

недоступно на русском языке

ISO 13095:2014 specifies two methods for characterizing the shape of an AFM probe tip, specifically the shank and approximate tip profiles. These methods project the profile of an AFM probe tip onto a given plane, and the characteristics of the probe shank are also projected onto that plane under defined operating conditions. The latter indicates the usefulness of a given probe for depth measurements in narrow trenches and similar profiles. This International Standard is applicable to the probes with radii greater than 5u0, where u0 is the uncertainty of the width of the ridge structure in the reference sample used to characterize the probe.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2014-07
  • Версия : 1
    Число страниц : 25
  • :
    ISO/TC 201/SC 9
    Scanning probe microscopy
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF118

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас
    ISO 13095:2014

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe