ISO 10810:2010 Предпросмотр

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Guidelines for analysis

недоступно на русском языке

ISO 10810:2010 is intended to aid the operators of X‑ray photoelectron spectrometers in their analysis of typical samples. It takes the operator through the analysis from the handling of the sample and the calibration and setting-up of the spectrometer to the acquisition of wide and narrow scans and also gives advice on quantification and on preparation of the final report.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2010-11
  • Версия : 1
    Число страниц : 27
  • :
    ISO/TC 201/SC 7
    Electron spectroscopies
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF138

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO 10810:2010
  • Будет заменено
    ISO/FDIS 10810

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe