ISO 17867:2015 Предпросмотр

Particle size analysis -- Small-angle X-ray scattering

недоступно на русском языке

Small-angle X-ray scattering (SAXS) is a well-established technique that allows structural information to be obtained about inhomogeneities in materials with a characteristic length from 1 nm to 100 nm. Under certain conditions (narrow size distributions, appropriate instrumental configuration, and idealised shape) the limit of 100 nm can be significantly extended. ISO 17687:2015 specifies a method for the application of SAXS to the estimation of mean particle sizes in dilute dispersions where the interaction between the particles is negligible. This International Standard allows two complementary data evaluation methods to be performed, model fitting and Guinier approximation. The most appropriate evaluation method shall be selected by the analyst and stated clearly in the report. SAXS is sensitive to electron density fluctuations. Therefore, particles in solution and pores in a matrix can be studied in same way.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2015-05
  • Версия : 1
    Число страниц : 23
  • :
    ISO/TC 24/SC 4
    Particle characterization
  • 19.120
    Particle size analysis. Sieving

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF118

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO 17867:2015
  • Будет заменено
    ISO/DIS 17867

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe