ISO/TS 25138:2010

Это стандарт пересмотрен ISO/TS 25138:2019

Тезис

ISO/TS 25138:2010 describes a glow-discharge optical-emission spectrometric method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of metal oxide films.

The method is applicable to oxide films 1 nm to 10 000 nm thick on metals. The metallic elements of the oxide can include one or more from Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn and Al. Other elements that can be determined by the method are O, C, N, H, P and S.

Общая информация ^

Текущий статус : Withdrawn

Дата публикации : 2010-12
Версия : 1
Технический комитет
:
ISO/TC 201/SC 8

Glow discharge spectroscopy
ICS :

71.040.40

Chemical analysis

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет

Изменения / Исправления

В настоящее время отменен
ISO/TS 25138:2010
Пересмотрен
ISO/TS 25138:2019

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами

+41 22 749 08 88

customerservice@iso.org

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.