Тезис 

ISO/TS 25138:2010 describes a glow-discharge optical-emission spectrometric method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of metal oxide films.

The method is applicable to oxide films 1 nm to 10 000 nm thick on metals. The metallic elements of the oxide can include one or more from Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn and Al. Other elements that can be determined by the method are O, C, N, H, P and S.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2010-12
  • Версия : 1
    Число страниц : 36
  • Технический комитет
    :
    ISO/TC 201/SC 8
    Glow discharge spectroscopy
  • ICS :
    71.040.40
    Chemical analysis

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO/TS 25138:2010
  • Пересмотрен
    ISO/TS 25138:2019

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах