ISO 23830:2008 Предпросмотр

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

недоступно на русском языке

ISO 23830:2008 specifies a method for confirming the repeatability and constancy of the positive-ion relative-intensity scale of static secondary-ion mass spectrometers, for general analytical purposes. It is only applicable to instruments that incorporate an electron gun for charge neutralization. It is not intended to be a calibration of the intensity/mass response function. That calibration may be made by the instrument manufacturer or another organization. The present method provides data to confirm the constancy of relative intensities with instrument usage. Guidance is given on some of the instrument settings that may affect this constancy.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2008-11
  • Версия : 1
    Число страниц : 12
  • :
    ISO/TC 201/SC 6
    Secondary ion mass spectrometry
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF58

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Не подтверждено
    ISO 23830:2008

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe