p
31693
ISO 18114:2003 Предпросмотр
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
недоступно на русском языке
Последний раз этот стандарт был пересмотрен в 2014. Поэтому данная версия остается актуальной
ISO 18114:2003 specifies a method of determining relative sensitivity factors (RSFs) for secondary-ion mass spectrometry (SIMS) from ion-implanted reference materials.
The method is applicable to specimens in which the matrix is of uniform chemical composition, and in which the peak concentration of the implanted species does not exceed one atomic percent.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2003-04
-
Версия : 1Число страниц : 4
-
- ICS :
-
Chemical analysis
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| Бумажный |
- CHF38
Жизненны цикл
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Изменения / Исправления
-
Сейчас на стадии пересмотра
ISO 18114:2003
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах