ISO 15470:2004

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

ISO 15470:2004 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer shall be described.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2004-05
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 201/SC 7
    Electron spectroscopies
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 15470:2004
  • Пересмотрен
    ISO 15470:2017

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe